國家標(biāo)準(zhǔn)《納米技術(shù) 動態(tài)光散射法粒度分析儀技術(shù)要求》正式發(fā)布

 由國家納米科學(xué)中心牽頭起草的國家標(biāo)準(zhǔn)《納米技術(shù) 動態(tài)光散射法粒度分析儀技術(shù)要求》正式發(fā)布，并于2025年2月起實施。

2024年7月24日，由國家納米科學(xué)中心牽頭，中國計量科學(xué)研究院 、北京信立方科技發(fā)展股份有限公司等單位參與起草的國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 44223-2024《納米技術(shù) 動態(tài)光散射法粒度分析儀技術(shù)要求》正式發(fā)布，并于2025年2月1日起實施。該標(biāo)準(zhǔn)由TC279（全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會）歸口 ，主管部門為中國科學(xué)院。

隨著納米科技的迅速發(fā)展，納米材料的粒度表征已經(jīng)成為評估材料特性的關(guān)鍵指標(biāo)之一。動態(tài)光散射法粒度分析儀憑借其卓越的測量能力，成為亞微米及納米級顆粒粒度分析的常用儀器。然而，現(xiàn)有的標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)規(guī)范體系尚未覆蓋該類儀器的技術(shù)要求指標(biāo)，中國顆粒學(xué)會顆粒測試專業(yè)委員會、北京粉體技術(shù)協(xié)會相關(guān)專家在組織多次粒度儀量值比對活動的基礎(chǔ)上，倡議提出制定針對動態(tài)光散射法粒度分析儀設(shè)備性能要求和評價的國家標(biāo)準(zhǔn)，以推動顆粒技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)化發(fā)展。

該標(biāo)準(zhǔn)主要介紹了動態(tài)光散射法粒度分析儀的主要技術(shù)要求，以及儀器準(zhǔn)確性、重復(fù)性的試驗方法。

標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位包括國家納米科學(xué)中心 、中國計量科學(xué)研究院 、北京市科學(xué)技術(shù)研究院分析測試研究所（北京市理化分析測試中心） 、珠海真理光學(xué)儀器有限公司 、丹東百特儀器有限公司 、華南師范大學(xué) 、濟南微納顆粒儀器股份有限公司 、珠海歐美克儀器有限公司 、合肥鴻蒙標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院有限公司 、廣州特種承壓設(shè)備檢測研究院 、上海思百吉儀器系統(tǒng)有限公司 、冷能（廣東）科技有限公司 、中國計量大學(xué) 、山東理工大學(xué) 、北京信立方科技發(fā)展股份有限公司 、成都精新粉體測試設(shè)備有限公司 、安泰科技股份有限公司 、安東帕（上海）商貿(mào)有限公司 、中國合格評定國家認可中心 、北京粉體技術(shù)協(xié)會 、中國顆粒學(xué)會 。